Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.KZ
Ваш город: Москва
Ваше местоположение – Москва
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы
Читайте отзывы покупателей и оценивайте качество магазина на Яндекс.Маркете

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

В наличии
Местонахождение: МоскваСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Жу У., Уанга Ж.Л.
ISBN: 978-5-9963-1110-1
Год издания: 2019
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 576
Издательство: М.: БИНОМ. Лаборатория знаний
Вид издания: Научное издание
Для кого: Для специалистов
Цена: 1126 руб.
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:
Надотраслевые технологии:
Код товара: 049965
Способы доставки в город Москва *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Возможность
оплаты при
получении заказа
Самовывоз из Москвы (собственные пункты самовывоза) Нет, только предоплата
Самовывоз из города Москва (пункты самовывоза партнёра CDEK)Есть, наличными и банковской картой
Курьерская доставка CDEK из города МоскваЕсть, наличными и банковской картой
Доставка Почтой России из города МоскваЕсть, наличными
Экспресс-доставка EMS из города МоскваНет, только предоплата
      Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.
      Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
      Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.