Ваш любимый книжный интернет магазин
Ваш город: Москва
Ваше местоположение – Москва
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Яндекс-Поиск по сайту
(морфологический)

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надежности

В наличии
Местонахождение: Санкт-ПетербургСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Куликов И.В.
ISBN: 978-5-7325-1115-4
Год издания: 2017
Формат книги: 70×100/16 (170×240 мм)
Количество страниц: 172
Издательство: СПб.: Политехника
Вид издания: Монография
Цена: 377 руб.
Положить в корзину
Способы и сроки доставки в город Москва *Возможность
оплаты при
получении заказа
Стоимость доставки
Самовывоз из города Москва (пункты самовывоза партнёров)
  - комплектация не более 3 рабочих дней
  - контрольный срок доставки: от 2 до 10 дней в зависимости от региона поставки
Есть, наличными и банковской картойуточняется
Курьерская доставка CDEK из города Санкт-Петербург
  - комплектация не более 1 рабочего дня
  - контрольный срок доставки: ? дн.
Есть, наличными и банковской картойуточняется
Доставка Почтой России из города Санкт-Петербург
  - комплектация не более 4 рабочих дней
  - контрольный срок доставки: ? дн.
Нет, только предоплатауточняется
Экспресс-доставка EMS из города Санкт-Петербург
  - комплектация не более 4 рабочих дней
  - контрольный срок доставки: ? дн.
Нет, только предоплатауточняется
* - стоимость доставки показана для каждой книги и может быть изменена в меньшую сторону, при условии заказа нескольких позиций у одного поставщика. Окончательный выбор способов доставки и оплаты будет делаться при оформлении заказа.
Аннотация: В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие «электронного функционала» и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель.
Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Оглавление:
Предисловие.
Принятые сокращения и терминологический словарь.
Глава 1. Физические основы функциональной устойчивости.
1.1. Предпосылки функциональной устойчивости.
1.2. Природа и формирование дефектов структуры Si – SiO2.
1.3. Причины деградации параметров базовых элементов.
Глава 2. Феноменологическая модель устойчивости.
2.1. Основы феномена устойчивости базовых структур.
2.2. Концепция оценки функциональной устойчивости.
2.3. Исследования функциональной устойчивости СБИС.

Глава 3. Функциональная устойчивость и тепловое старение.
3.1. Введение в проблему моделирования теплового старения.
3.2. Практика использования индекса Еа для оценки надёжности.
3.3. Теоретические аспекты термодинамического описания систем.

Глава 4. Критерий функциональной устойчивости и надёжность.
4.1. Концепция прогноза функционального ресурса СБИС.
4.2. Оценка интенсивности сбоев СБИС для расчётов надёжности.
4.3. Прикладные аспекты критерия функциональной устойчивости.

Приложение А. Методика сравнительной оценки качества СБИС по их функциональной устойчивости.
Приложение Б. Методика прогноза функционального ресурса СБИС.
Приложение В. Методика экспериментально-расчётной оценки интенсивности сбоев (отказов) СБИС.