- Профессиональная
- Научно-популярная
- Художественная
- Публицистика
- Детская
- Искусство
- Хобби, семья, дом
- Спорт
- Путеводители
- Блокноты, тетради, открытки
Основы математической метрологии
В наличии
Местонахождение: Санкт-Петербург | Состояние экземпляра: новый |
Бумажная
версия
версия
Автор: Цветков Э.И.
ISBN: 5-7325-0793-0
Год издания: 2005
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 510
Издательство: СПб.: Политехника
Вид издания: Монография
Цена: 398 руб.
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:Код товара: 044246
Способы доставки в город Москва * комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней | Возможность оплаты при получении заказа |
Самовывоз из города Москва (пункты самовывоза партнёра CDEK) | Есть, наличными и банковской картой |
Курьерская доставка CDEK из города Санкт-Петербург | Есть, наличными и банковской картой |
Доставка Почтой России из города Санкт-Петербург | Нет, только предоплата |
Примечание: Поощрительный диплом конкурса "Серебряная литера" в номинации "Научная, учебная и научно-популярная литература"
Аннотация: В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.